|
|
| Nazwa marki: | RUYA |
| Numer modelu: | DT450WK |
| MOQ: | 1 SET |
| Cena: | negocjowalne |
| Czas dostawy: | 3-4 miesiące |
| Warunki płatności: | T/T |
DT450WK Jednoosiowy gramofon do badań giroskopów MEMS do kontroli temperatury
Opis produktu
Na gramofonie można sprawdzić właściwości temperatury żyroskopu MEMS,i uzyskać krzywą relacji częstotliwości rezonansowej modalnej i wartość zasługi żyroskopu MEMS z temperaturą, w celu uzyskania segmentowanej metody kompensacji temperatury. pomiar zerowego zakłócenia podczas uruchamiania; pomiar zerowego zakłócenia w różnych temperaturach;pomiar błędów żyroskopii MEMS spowodowanych zmianami temperatury; pomiar zerowy w różnych temperaturach po podjęciu środków kompensacji temperatury; można dostarczyć kompleksowe sprawozdanie z oceny badania.
Parametry produktu
|
Specyfikacja |
||
|
1 |
Waga ładunku |
30 kg |
|
2 |
Średnica stołu |
F450 mm |
|
3 |
Płaskość stołu |
00,02 mm |
|
4 |
Wynik z tabeli |
00,02 mm |
|
5 |
Dokładność obrotowa osi |
±3′′ |
|
6 |
Błąd pozycjonowania |
± 3′′ |
|
7 |
Pozycjonowanie powtarzalność pozycji kątowej |
± 2′′ |
|
8 |
Zakres stawek |
±0.0001°/s~±1000°/s |
|
9
|
Dokładność wskaźnika
|
ω≤1°/s, 2x10-3 (1°przeciętnie) |
|
1°/s≤ω<10°/s, 2x10-4 (Średnia 10°) |
||
|
ω≥10°/s, 2x10-5 (Średnia 360°) |
||
|
10 |
Maksymalne przyspieszenie kątowe |
≥ 300°/s2 |
|
11 |
Użytkownik |
Dostosowywalne |
|
12 |
Zakres temperatury |
-55°C~+85°C |
|
13 |
Błąd temperatury |
±1°C |
|
14 |
Zmiany temperatury |
±1°C |
|
15 |
Jednorodność temperatury |
± 2°C |
|
16 |
Maksymalna prędkość ogrzewania i chłodzenia |
≥ 3°C/min |
|
17 |
Wymiary wewnątrz pudełka |
500 mm x 500 mm x 600 mm |
![]()
![]()
|
| Nazwa marki: | RUYA |
| Numer modelu: | DT450WK |
| MOQ: | 1 SET |
| Cena: | negocjowalne |
| Szczegóły opakowania: | Drewniana skrzynia |
| Warunki płatności: | T/T |
DT450WK Jednoosiowy gramofon do badań giroskopów MEMS do kontroli temperatury
Opis produktu
Na gramofonie można sprawdzić właściwości temperatury żyroskopu MEMS,i uzyskać krzywą relacji częstotliwości rezonansowej modalnej i wartość zasługi żyroskopu MEMS z temperaturą, w celu uzyskania segmentowanej metody kompensacji temperatury. pomiar zerowego zakłócenia podczas uruchamiania; pomiar zerowego zakłócenia w różnych temperaturach;pomiar błędów żyroskopii MEMS spowodowanych zmianami temperatury; pomiar zerowy w różnych temperaturach po podjęciu środków kompensacji temperatury; można dostarczyć kompleksowe sprawozdanie z oceny badania.
Parametry produktu
|
Specyfikacja |
||
|
1 |
Waga ładunku |
30 kg |
|
2 |
Średnica stołu |
F450 mm |
|
3 |
Płaskość stołu |
00,02 mm |
|
4 |
Wynik z tabeli |
00,02 mm |
|
5 |
Dokładność obrotowa osi |
±3′′ |
|
6 |
Błąd pozycjonowania |
± 3′′ |
|
7 |
Pozycjonowanie powtarzalność pozycji kątowej |
± 2′′ |
|
8 |
Zakres stawek |
±0.0001°/s~±1000°/s |
|
9
|
Dokładność wskaźnika
|
ω≤1°/s, 2x10-3 (1°przeciętnie) |
|
1°/s≤ω<10°/s, 2x10-4 (Średnia 10°) |
||
|
ω≥10°/s, 2x10-5 (Średnia 360°) |
||
|
10 |
Maksymalne przyspieszenie kątowe |
≥ 300°/s2 |
|
11 |
Użytkownik |
Dostosowywalne |
|
12 |
Zakres temperatury |
-55°C~+85°C |
|
13 |
Błąd temperatury |
±1°C |
|
14 |
Zmiany temperatury |
±1°C |
|
15 |
Jednorodność temperatury |
± 2°C |
|
16 |
Maksymalna prędkość ogrzewania i chłodzenia |
≥ 3°C/min |
|
17 |
Wymiary wewnątrz pudełka |
500 mm x 500 mm x 600 mm |
![]()
![]()